在电子、通信、航空航天等领域，高频材料的性能至关重要。而介质损耗角正切值（tanδ）作为衡量材料在高频电场下能量损耗的重要参数，其准确测量对材料研发、生产和应用具备极其重大意义。高频介质损耗试验仪正是为此而生的精密仪器，它能够精准测量材料的tanδ值，为材料性能评估提供较为可靠数据支持。

  高频范围，满足多样需求：本仪器频率范围覆盖广泛，可从几十Hz到数GHz，满足多种材料在不同频率下的测试需求。

  高精度测量，结果可靠：使用先进的测量原理和高精度元器件，确保测量结果准确可靠，tanδ测量分辨率可达10^-5，满足科研和生产的严格要求。

  多种测试模式，灵活便捷：支持多种测试模式，包括串联模式、并联模式、自动模式等，用户可根据实际的需求灵活选择，操作简便。

  宽温范围，适应能力强：配备高低温试验箱，可在宽温度范围内来测试，模拟材料在不同环境下的性能表现。

  人性化设计，操作简单便捷：采用大尺寸触摸屏，界面友好，操作简单便捷，即使是非专业技术人员也能轻松上手。

  数据存储与分析，高效便捷：内置大容量存储器，可存储大量测试数据，并支持数据导出和分析，方便用户进行数据处理和报告生成。

  GB/T1409—2006测量电气在允许电压下不导电的材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法;

  ASTM D150-11实心电在允许电压下不导电的材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；

  GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；

  GB/T5654-2007液体在允许电压下不导电的材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量;

  JJG563-2004高压电容电桥检定规程；JB1811-92压缩气体标准电容器；

  IEC 60250测定电气在允许电压下不导电的材料在工频、音频、射频(包括米波长)下电容率和电介质损耗因数的推荐方法；

  高频介质损耗试验仪是材料研发、生产和应用不可或缺的利器。选择我们，就是选择精准、可靠和高效！

  随着科技的持续不断的发展，高频材料的应用领域将愈来愈普遍，对材料性能的要求也将慢慢的升高。我们将继续致力于高频介质损耗试验仪的研发和创新，为用户更好的提供更加精准、便捷、高效的测试解决方案，助力材料科学的发展和进步。