的基本原理着手，结合实际使用事例，介绍微区X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱以及波长色散X射线荧光光谱技能在新资料研制中的多种使用，如原位定量剖析和元素散布成像等，以协助材科研人员更深化地了解X射线荧光光谱技能，并有效地将其使用于资料研制中。

  基于此，仪器信息网拟定2024年12月17-18日举行“第六届资料表征与剖析检测新技能网络会议”，旨在协助广阔学者了解前沿表征与剖析检测技能，霸占资料研讨中的表征与剖析检测难题，顺利开展表征与检测相关作业。

  本届会议精心策划成分剖析、微区结构与描摹剖析、外表和界面剖析、物相及热功能剖析4个专场，约请资料科学范畴相关检测技能讨论研讨与使用专家、闻名科学仪器企业技能代表，以在线共享陈述的方式，深化讨论资料表征及剖析检测技能的无限或许。一起，本次会议也为参会者们供给一个打破时刻地域约束的免费学习、交流平台。立刻报名，共赴这场资料科学的常识盛宴！

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